18650鋰電池卷繞步驟工藝要注意的問(wèn)題
18650鋰電池卷繞步驟工藝要注意的問(wèn)題
1、濕度控制≤1%RH目的
防止正負(fù)極片卷繞過(guò)程中吸水,導(dǎo)致零電壓、自放電、循環(huán)性能差;
方法:計(jì)算露點(diǎn)值和溫度值得出溫濕度值;
2、粉塵控制≤100,000pc/ft3(檢測(cè)粒徑為0.5um)
目的:防止粉塵在卷繞時(shí)卷入極組導(dǎo)致電芯短路、過(guò)熱、起火、自放電等不良;
方法:使用粉塵測(cè)試儀;
3、裁切毛刺異常
工藝要求:極片≤8um;極耳毛刺≤12um;檢測(cè)方式:每班次每臺(tái)機(jī)首檢隨機(jī)抽取1PCS電芯解剖,按《毛刺檢測(cè)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)》檢測(cè)正、負(fù)極片前后端及正、負(fù)極耳裁切毛刺。
不良影響:極片或極耳毛刺超出工藝要求可能導(dǎo)致毛刺刺穿隔膜,使正負(fù)極短路,電芯出現(xiàn)過(guò)熱,嚴(yán)重時(shí)可能爆炸,存在嚴(yán)重安全隱患。
4、正負(fù)極片覆蓋差
工藝要求:正、負(fù)極片對(duì)齊度0.75?.55mm
負(fù)極片與隔膜對(duì)齊度1?.5mm
檢測(cè)方式:換卷后抽檢連續(xù)3PCS電芯按《X-RAY作業(yè)指導(dǎo)書(shū)》檢測(cè)對(duì)齊度不良影響:1)正負(fù)極片對(duì)齊度超出工藝規(guī)格可能造成負(fù)極片未包住正極片,在電芯充電過(guò)程中,使正極脫出的鋰離子無(wú)法找到對(duì)應(yīng)的石墨嵌入,造成電芯中有游離的鋰離子在負(fù)極上堆積產(chǎn)生枝晶,枝晶刺穿隔膜造成內(nèi)部短路而產(chǎn)生安全隱患。
2)負(fù)極片與隔膜對(duì)齊度超出工藝標(biāo)準(zhǔn)可能使負(fù)極片受到擠壓變形,極片上的負(fù)極料部分脫落,在充電過(guò)程中電芯膨脹,粉料刺穿隔膜導(dǎo)致正負(fù)極內(nèi)部短路而產(chǎn)生安全隱患;
5、卷繞方向極片覆蓋差(外層負(fù)極超正極料長(zhǎng)、內(nèi)層負(fù)極超正極料長(zhǎng))檢測(cè)方式:每2H每臺(tái)卷繞機(jī)抽檢3PCS電芯解剖,分別用目鏡和直尺測(cè)量?jī)煞N覆蓋差尺寸。
不良影響:可能造成負(fù)極片未包住正極片,在電芯充電過(guò)程中,使正極脫出的鋰離子無(wú)法找到對(duì)應(yīng)的石墨嵌入,造成電芯中有游離的鋰離子在負(fù)極上堆積產(chǎn)生枝晶,枝晶刺穿隔膜造成內(nèi)部短路而產(chǎn)生安全隱患。
6、短路測(cè)試
參數(shù)設(shè)置(100V,25nF250V,
250uA)檢測(cè)方式:每班首檢時(shí)用短路樣品測(cè)試機(jī)臺(tái);不良影響:自放電、發(fā)熱、爆炸等短路因素:裁切顆粒、金屬粉塵、毛刺等造成隔膜破孔;
7、極耳粘箔及拉力
工藝要求:拉力≥15N粘箔面積>2/3焊印
檢測(cè)方式:每2H抽檢1PCS電芯解剖測(cè)拉力、看粘箔情況
不良影響:高內(nèi)阻
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